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電子材料溫變耐受性測試:可編程快速升降溫試驗箱

更新時間:2026-01-21   點擊次數:179次
  可編程快速升降溫試驗箱是模擬溫變環(huán)境的核心設備,可通過精準控制升降溫速率,驗證電子材料在溫度急劇變化下的性能穩(wěn)定性,是電子元器件、PCB 板、電池材料等產品可靠性測試的關鍵工具。
 
  一、 測試前準備
 
  樣品準備:根據測試需求選取代表性電子材料樣品,如芯片封裝材料、電子漿料、電路板基材等,確保樣品表面無污漬、損傷,尺寸適配試驗箱內膽空間。
 
  參數設定:依據電子材料的應用場景和行業(yè)標準,設定試驗參數,包括目標高低溫范圍(如 - 40℃~150℃)、升降溫速率(常見 5~20℃/min)、溫變循環(huán)次數,以及保溫時間。
 
  設備檢查:確認試驗箱密封條完好、風機運轉正常,清潔箱內雜質;檢查制冷、加熱系統(tǒng)是否穩(wěn)定,避免測試過程中出現(xiàn)故障。
 
  二、 測試操作步驟
 
  將準備好的樣品均勻放置在試驗箱樣品架上,避免樣品堆疊,保證溫變環(huán)境均勻作用于每個樣品。
 
  啟動設備,按照預設參數運行程序,試驗箱會自動完成升溫、保溫、降溫、再保溫的循環(huán)過程。
 
  測試過程中,通過設備顯示屏實時監(jiān)控溫濕度數據,記錄箱內實際溫度與設定值的偏差,確保試驗環(huán)境精準可控。
 
  達到設定循環(huán)次數后,設備自動停機,待箱內溫度回歸常溫后,再取出樣品。
 
  三、 測試后樣品評估
 
  外觀檢查:觀察樣品是否出現(xiàn)變形、開裂、變色、鼓包等外觀缺陷,記錄異常情況。
 
  性能檢測:對測試后的樣品進行電性能測試,如電阻、電容、絕緣性等,對比測試前后的性能參數,判斷材料是否滿足耐溫變要求。
 
  數據整理:匯總設備記錄的溫變曲線、循環(huán)次數等數據,結合樣品外觀和性能檢測結果,出具耐溫變性能測試報告。
 
  四、 注意事項
 
  嚴禁在設備運行過程中強行開啟箱門,防止凍傷或設備損壞。
 
  不同類型的電子材料需分開測試,避免相互污染或影響測試結果。
 
  定期校準設備的溫度傳感器和升降溫速率,保證測試數據的準確性。
 

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